机译:Cramer Rao下界基于点的图像配准与异方差误差模型应用于单分子显微镜
机译:基于点的图像配准误差分析及其在单分子显微镜中的应用
机译:受约束的克拉姆 - rao在错误中的误差下限(EIV)模型:重新审视
机译:使用模拟现象学对图像配准的Cramer-Rao下界计算
机译:图像配准误差分析及其在单分子显微镜中的应用
机译:图像中的百万像素刻度界标位置:光学性能,成像系统和性能的Cramer-Rao。
机译:Cramér-Rao下界用于基于点的图像配准和异方差误差模型用于单分子显微镜
机译:基于点的图像配准误差分析及其在单分子显微镜中的应用
机译:用于支持约束和基于像素的多帧盲解卷积的Cramer-Rao下界(postprint)